X射线能谱仪/波谱仪校准用铝铜薄膜铜元素含量标准物质
Reference material of Cu content in Al-Cu film for X-ray energy dispersive spectrometer/wavelength dispersive spectrometer calibration
- 产品编号:
- NIM-RM2165
- CAS:
- N/A
- 品牌:
- 中国计量科学研究院
- 浓度/纯度:
- 铜元素含量标准值...
- 包装:
- 1个样品
- 产品性质:
- 中国计量科学研究院
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