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X射线能谱仪/波谱仪校准用铝铜薄膜铜元素含量标准物质

Reference material of Cu content in Al-Cu film for X-ray energy dispersive spectrometer/wavelength dispersive spectrometer calibration

产品编号:
NIM-RM2165
CAS:
N/A
品牌:
中国计量科学研究院
浓度/纯度:
铜元素含量标准值...
包装:
1个样品
产品性质:
中国计量科学研究院
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